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產(chǎn)品展示
  • TOF-qSIMS飛行時間二次離子質(zhì)譜儀
    TOF-qSIMS飛行時間二次離子質(zhì)譜儀設計用于多種材料的表面分析和深度剖析應用，包括聚合物，藥物，超導體，半導體，合金，光學和功能涂層以及電介質(zhì)，檢測限低于1ppm。
    更新時間：2023-11-22型號：TOF-qSIMS瀏覽量：11866
  • EQS二次離子質(zhì)譜儀
    離子分析質(zhì)譜儀/飛行時間二次離子質(zhì)譜儀可分析來自固體樣品的二次陰、陽離子和中性粒子。采用技術的SIMS 探針，便于連結到現(xiàn)有的UHV表面科學研究反應室。
    更新時間：2023-11-22型號：EQS瀏覽量：6345
  • SIMS Workstation二次離子質(zhì)譜儀
    二次離子質(zhì)譜儀適合做多層薄膜的深度分析,可以做元素成像和混合模式掃描，自動測量正、負和中性粒子。
    更新時間：2023-11-22型號：SIMS Workstation瀏覽量：3620
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